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COB光模块老化机
构成
外观尺寸：1430×1940×1015(W×H×D)mm
温区：2个，每个温区可以独立老化不同产品
温度分辨率： 0.1℃
通用性：支持SFP/SFP+、XFP、QSFP28、QSFP-DD、OSFP、DSFP等封装
所属分类：
产品展示
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- 产品描述
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- 商品名称: COB光模块老化机
<p><span style="font-size:16px;">构成</span></p> <p><span style="font-size:16px;">外观尺寸：1430×1940×1015(W×H×D)mm</span></p> <p><span style="font-size:16px;">温区：2个，每个温区可以独立老化不同产品</span></p> <p><span style="font-size:16px;">温度分辨率： 0.1℃</span></p> <p><span style="font-size:16px;">通用性：支持SFP/SFP+、XFP、QSFP28、QSFP-DD、OSFP、DSFP等封装</span></p>
构成
✦ 外观尺寸：1430×1940×1015(W×H×D)mm
✦ 温区：2个，每个温区可以独立老化不同产品
✦ 温度分辨率： 0.1℃
✦ 通用性：支持SFP/SFP+、XFP、QSFP28、QSFP-DD、OSFP、DSFP等封装
功能
人机交互，可查看相应层数的模块订单号、型号、监控参数数据、入炉位置、数量、仓内不同位置温度，模块剩余老化时间、出炉提示；软件重启自动获取当前老化状态
适用行业
光通信 
半导体 
激光雷达
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<p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">构成</span></p> <p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">外观尺寸：700x700x2000mm</span></p> <p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">视觉：自动对焦捕捉定位</span></p> <p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">精度： ± 1微米</span></p> <p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">通用性：各尺寸晶圆芯片的检测</span></p>
<p><span style="font-size:16px;">构成</span></p> <p><span style="font-size:16px;">外观尺寸：950x850x2000mm</span></p> <p><span style="font-size:16px;">视觉：自动对焦捕捉定位</span></p> <p><span style="font-size:16px;">精度： ± 0.5微米</span></p> <p><span style="font-size:16px;">通用性：AWG PLC DR4/FR4</span></p>
<p><span style="font-size:16px;">构成</span></p> <p><span style="font-size:16px;">外观尺寸：1430×1940×1015(W×H×D)mm</span></p> <p><span style="font-size:16px;">温区：2个，每个温区可以独立老化不同产品</span></p> <p><span style="font-size:16px;">温度分辨率： 0.1℃</span></p> <p><span style="font-size:16px;">通用性：支持SFP/SFP+、XFP、QSFP28、QSFP-DD、OSFP、DSFP等封装</span></p>
<p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">构成</span></p> <p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">外观尺寸：700x700x2000mm</span></p> <p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">视觉：自动对焦捕捉定位</span></p> <p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">精度： ± 1微米</span></p> <p class="normalPara"><span style="font-size:16px;">通用性：各尺寸晶圆芯片的检测</span></p>